تحميل | تاريخ رفع المحاضرة | نوع الملف | المرحلة | القسم | الكلية | اسم المحاضرة | ت |
2017/02/28 | docx | 3 | قسم العلوم | كلية التربية الاساسية | الإلكترونيات | 1 |
رابط البحث | قاعدة البيانات | تاريخ النشر | اسم المجلة | اسم الباحث | عنوان البحث | ت |
local | 2012-11-08 | Tikrit Journal of Pure Science 17 (4) 2012 | أ.م.د . باسم العيبي شويع | A Comparison of Kodak DEF, CX and AX films using soft X-ray wavelengths | 1 |